即耐壓測(cè)試(Hi-Pot Test)或電器強(qiáng)度測(cè)試(Electric Strength Test)。測(cè)試前應(yīng)將Input 各端子短路為一點(diǎn)（I/P），Output 各端子短路為一點(diǎn)（O/P），
FG 單獨(dú)一點(diǎn)后始可測(cè)試。按照以下測(cè)試回路，于指定的端子間(如I/P-O/P，I/P-FG，O/P-FG 間)之可耐電壓值(如測(cè)試電壓為交流時(shí)，漏電流一般以25mA 為基準(zhǔn))，時(shí)間1 分鐘。

(1)耐壓測(cè)試是為了確保電源供應(yīng)器初次級(jí)絕緣良好，避免遭受電擊危險(xiǎn)。測(cè)試電壓須逐漸升高，由零轉(zhuǎn)至默認(rèn)電壓(上升時(shí)間至少1秒)，并于此點(diǎn)停留60秒鐘。(生產(chǎn)測(cè)試時(shí)，可將電氣強(qiáng)度測(cè)試時(shí)間縮短為1秒鐘)。若因施加測(cè)試電壓而使電流失控地迅速增加則表示絕緣貫穿現(xiàn)象已經(jīng)發(fā)生。電暈放電或單一瞬間的閃光，則不視為絕緣已遭貫穿。
(2)當(dāng)使用AC電壓測(cè)試時(shí)，Y電容是引起漏電流產(chǎn)生的主因。4.7nF足以造成高達(dá)約5mA的漏電流，如依UL-554的要求，則需將Y-CAP去除，但此要求對(duì)生產(chǎn)而言是不合實(shí)際的，唯一的作法就是將測(cè)試儀的耐電流提高，一般為25mA(目前安規(guī)并未定義電流的限制值)。
(3)依據(jù)IEC60950的要求，待測(cè)絕緣體若有橫跨Y電容可使用DC測(cè)試(AC 3KV=DC 4242V)，目的即是為了解決AC對(duì)Y電容漏電流的影響。